Laser Fault Injection nutzt den photoelektrischen Effekt, der durch die Wechselwirkung von Photonen einer Laserquelle mit einem Halbleiter entsteht. Die Laserstrahlung kann in diesen Bereichen ein Elektron-Loch-Paar erzeugen, wenn ihre Energie die Halbleiter-Bandlücke übersteigt.
Wir haben mit einem marktführenden Partner ein spezifisches System entwickelt, um diesem Effekt entgegenzuwirken. Es ist ein
• Modulares Mikroskopsystem
• Anpassungsfähig an Multi-Wellenlängen-Laser
• Kompatibel mit Freistrahl- oder fasergekoppelten Lasern
• Einen oder zwei Laserpunkte
• Monitordiode zur Erkennung der Laseraktivierung
• Feste oder mobile Laserpunkte
Zum Testen der Sicherheit von Kreditkarten, Smartcards und FPGA-Chips