Aufgaben
- optische Fehleranalyse, Qualitätskontrolle und Dokumentation von ICs, FPGAs, BGAs
- einseitige, zweiseitige oder multilayer PCB Inspektion
- Erkennen von Rissen, Kurzschlüssen, defekten elektrische Verbindungen oder Brücken
- optische Post-Bond- / Post-Reflow-Inspektion mit Pin-Zählung und Komponenten-Identifizierung
- Auffinden von Unregelmäßigkeiten in der Waferbeschichtung
- Analyse von Verunreinigungen, Rissen bzw. Identifizierung von Partikeln und Kratzern
Lösung
- IM·compact M oder IM·linea XL in der monochromen oder in der Farbvariante
- anwendungsoptimierte Optoelektronik in USB 3.1 oder GigE verfügbar - Plug&Play
- einfach zu bedienende und kostenlose OptoViewer 2.0 - Software
- verschiedene SDK und Toolkits sowie BV-Plugins für die Maschinenintegration
Mehrwert
- All-in-One-Digitalmikroskop optimiert für den mobilen Einsatz
- Kompakter als herkömmliche Mikroskope
- zuverlässige Bilddaten mit höchster Bildqualität und guter Farbtreue
- gutes Preis-Leistungs-Verhältnis mit Software-Unterstützung
Application note (engl.) (Einseiter)
Application note (engl.) (Vierseiter)